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            Leeb252A手持式涂層測厚儀(一體)

            簡要描述:Leeb252A手持式涂層測厚儀(一體)可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動轉換,或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。

            • 產品型號:
            • 廠商性質:生產廠家
            • 更新時間:2022-05-20
            • 瀏覽次數:599

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            品牌其他品牌產地類別國產
            應用領域醫療衛生,環保,能源,綜合

            功能特點

            ·可測量涂鍍層: 任何磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度;任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度

            ·易于操作的菜單設計

            ·連續和單次測量方式

            ·直接工作模式和組工作模式

            ·可統計并顯示:平均值、zui大值、zui小值、標準方差、統計數

            ·非常方便的進行一點或兩點校準

            ·可保存320個測量數據供隨時下載至計算機處理

            ·實時刪除測量數據和組數據

            ·高低限報警

            ·低電和錯誤提示

            ·USB傳輸數據至計算機分析統計

            ·可設置的自動關機功能

            1.1 應用

            本儀表可應用在無損的、快速和高精度涂鍍層測厚領域。它是油漆、防腐蝕、電鍍、汽車工業、輪船運輸、飛機制造等相關行業理想的輔助制造生產工具。它可以穩定地工作于實驗室,車間現場和戶外。同時,它可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下,完成不同涂鍍層的測厚任務。

            1.2 功能概述

            當測量鐵鎳等磁性金屬和合金基體表面涂層時,本儀表將工作于電磁感應原理。當測量非磁性的金屬基體涂層時,它將工作于渦流模式。測量值和設定統計值將實時進行LCD顯示,背光保證您在黑暗的環境中能順利工作。本儀表設計有兩種工作模式:直接模式和組模式。

            直接模式(DIR: 此工作模式一般進行簡單,快速和隨意的測量。本模式下,可以進行80個測量數據的統計,但所有數據在儀表關機后*丟失,不能進行保存。關機前,您可以通過菜單調出之前的測量數據查看。請注意,從直接模式到組模式后,直接模式下面的所有測量數據和統計數據將*丟失。

            組模式(GRO): 此工作模式下,所有測量數據和統計數據將被保存,斷電、模式切換或關機不會丟失。zui大80個數據能被保存,進入組模式下,系統會自動把當前組的所有數據和統計值從存儲器調入系統。此模式下,當測量數據量超出80后,zui舊的數據將被刪除。

            1.3 附件說明

            兩節1.5V干電池

            包裝箱

            操作說明書

            鋼鐵和鋁塊基體各一塊,校準標準薄片若干

            USB連接線纜

            軟件CD,支持Windows 98/XP/Vista

            1.4 探頭

            探頭被安裝在帶V型槽的保護外殼內,探頭頂部鑲有紅寶石,具有很強的耐腐蝕和耐磨作用。測量時,垂直迅速地置探頭于待測基體上,探頭底部彈簧將有助于使接觸保持在一定力作用范圍內,避免用力過度使待測基體變形,且接觸緊密。

            1.5 性能指標


            磁性測厚法

              適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:\\\.此種方法測量精度高

            渦流測厚法

            適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低

            規格參數


            Leeb252A

            傳感器探頭

            鐵磁性

            非鐵磁性

            工作原理

            磁感應

            渦流

            測量范圍

            0~1250um

            0~49.21mils

            0~1250um

            0~49.21mils

            精度

            0~50um (0.1um)

            50um~850um(1um)

            850um~1250um(0.01mm)

            0~1.968mils (0.001mils)

            1.968mils~33.46mils(0.01mils)

            33.46mils~49.21mils(0.1mils)

            0~50um (0.1um)

            50um~850um(1um)

            850um~1250um(0.01mm)

            0~1.968mils (0.001mils)

            1.968mils~33.46mils(0.01mils)

            33.46mils~49.21mils(0.1mils)

            誤差

            (相對當前讀數)

            0~850 um (+/- 3%+1um)

            850um~1250 um (+/- 5%)

            0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils)

            33.46um~49.21mils (+/- 5%)

            0~850 um(+/- 3%+1.5um)

            850um~1250um (+/- 5%)

            0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils)

            33.46um~49.21mils (+/- 5%)

            測量zui小曲率半徑

            1.5mm

            3mm

            zui小測量面積(直徑表示)

            7mm

            5mm

            可測量基體zui小厚度

            0.5mm

            0.3mm

            工作環境

            溫度

            0~40(32~104)

            濕度

            20%~90%

            磁場

            無強磁場環境

            電源

            AAA型堿性電池1.5V兩節

            外形尺寸

            150×55.5×23mm(主機)

            重量

            120g

            標準配置

            主機、標準試片、基體、AA型堿性電池


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